膜厚儀在不同環(huán)境下影響要素有哪些

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性改變的影響(在實際使用中，低碳鋼磁性的改變能夠認為是輕的)，為了防止熱處理和冷加工要素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對丈量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其資料成分及熱處理辦法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器進行校準。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊際效應(yīng)

本儀器對試件外表形狀的陡變靈敏。因而在靠近試件邊際或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行丈量是不牢靠的。

5、曲率

試件的曲率對丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的削減明顯地增大。因而，在彎曲試件的外表上丈量是不牢靠的。

6、試件的變形

丈量頭會使軟覆蓋層試件變形，因而在這些試件上測出牢靠的數(shù)據(jù)。

7、外表粗糙度

基體金屬和覆蓋層的外表粗糙程度對丈量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙外表會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次丈量時，在不同方位上應(yīng)添加丈量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還有必要在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個方位校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除掉覆蓋層后，再校對儀器的零點。

8、磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地攪擾磁性法測厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙丈量頭與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏，因而，有必要鏟除附著物質(zhì)，以保證儀器丈量頭和被測試件外表直觸摸摸。

10、丈量頭壓力

丈量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響丈量的讀數(shù)，因而，要堅持壓力恒定。

11、丈量頭的取向

丈量頭的放置方式對丈量有影響。在丈量中，應(yīng)當(dāng)使丈量頭與試樣外表堅持垂直。

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