方管規(guī)格表
方管 規(guī)格(mm) 16×16×0.4~1.5  18×18×0.4~1.5  20×20×0.4~1.5  25×25×0.6~2.0  30×30×0.6~4.0 35×35×1.0~4.0  40×40×1.0~4.5 45×45×1.0~5.0 50×50×1.0~5.0 60×60×1.5~5.0 70×70×2.0~6.0 75×75×2.0~6.0 80×80×2.0~6.0 85×85×2.0~6.0 95×95×2.0~8.0 100×100×2.0~8.0 120×120×4.0~8.0 150×150×6.0~10.0 180×180×6.0~12.0 200×200×6.0~12.0 220×220×6.0~14.0 250×250×6.0~14.0 280×280×6.0~14.0 300×300×8.0~14.0  320×320×8.0~14.0  350×350×8.0~14.0 380×380×8.0~14.0 400×400×8.0~14.0 480×480×10.0~14.0 420×420×10.0~14.0 450×450×10.0~14.0 500×500×10.0~14.0 550×550×10.0~40.0 600×600×10.0~40.0 700×700×10.0~40.0 800×800×10.0~50.0 900×900×10.0~50.0 1000×1000×10.0~50.0另改拔規(guī)格如下 38×38×1.0~4.0  34×34×1.0~2.0 44×44×1.0~4.5

 

十六  磁粉法檢測(cè)的原理是在方管材料中實(shí)現(xiàn)磁場(chǎng)，根據(jù)缺陷處的漏磁場(chǎng)與磁粉的相互作用，當(dāng)表面和近表面有不連續(xù)或缺陷時(shí)，則在不連續(xù)處或缺陷處磁力線發(fā)生局部畸變產(chǎn)生磁極。其優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備投資少，可靠性高，具有直觀性。缺點(diǎn)是操作成本高，不能對(duì)缺陷準(zhǔn)確分類，檢測(cè)速度較低。通過(guò)高頻感應(yīng)線圈，在方管表面產(chǎn)生感應(yīng)電流，感應(yīng)電流會(huì)導(dǎo)致缺陷區(qū)域消耗更多電能，引起局部溫度升高，通過(guò)紅外線檢測(cè)局部溫度，從而確定缺陷深度。紅外線檢測(cè)一般用于平直表面的缺陷檢測(cè)，不適合檢測(cè)表面不平整金屬。方管的漏磁檢測(cè)方法和磁粉檢測(cè)方法非常相似，適用范圍、靈敏度和可靠性較磁粉檢測(cè)方法更強(qiáng),所以使用非常廣泛，也是大家喜歡的方法.