江蘇無(wú)錫真空度開(kāi)關(guān)測(cè)試儀隨著中壓開(kāi)關(guān)無(wú)油化浪潮的興起，真空開(kāi)關(guān)以其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛的推廣和應(yīng)用。這些年來(lái)，由于生產(chǎn)工藝和現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境方面的原因，有些真空開(kāi)關(guān)在運(yùn)行過(guò)程中其真空滅弧室會(huì)有不同程度的泄漏，有的在正常壽命范圍內(nèi)就可能泄漏到無(wú)法正常開(kāi)斷的地步。在這種情況下進(jìn)行開(kāi)斷就會(huì)出現(xiàn)不能正常開(kāi)斷的現(xiàn)象而造成嚴(yán)重的后果。國(guó)內(nèi)真空開(kāi)關(guān)事故大多是由此原因引起。所以加強(qiáng)定期或不定期檢測(cè)真空開(kāi)關(guān)真空度成了十分重要的環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)的檢測(cè)方法是“耐壓法”，即真空開(kāi)關(guān)處于開(kāi)斷狀態(tài)下，在動(dòng)靜觸頭之間施加一定的電壓，檢測(cè)其泄漏電流的大小，由此推斷真空管的好壞。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是：操作簡(jiǎn)單；缺點(diǎn)是：只能定性地檢測(cè)真空管的好壞；而且真空度在10-5～10-1Pa之間無(wú)法準(zhǔn)確分辨，所以無(wú)法判斷泄漏的發(fā)展趨勢(shì)（即同一個(gè)真空開(kāi)關(guān)和上次相比有多大程度的泄漏）。本公司推出的TH-IV真空度測(cè)試儀結(jié)構(gòu)緊湊，機(jī)型輕便小巧，測(cè)試時(shí)間更短，測(cè)量可靠性、穩(wěn)定性、精度更高，功能更加完善。二、主要特點(diǎn)1、可定量測(cè)量各種型號(hào)真空開(kāi)關(guān)滅弧室內(nèi)的真空度；2、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)不需拆卸真空開(kāi)關(guān)；3、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠；4、液晶漢字顯示，操作更加簡(jiǎn)單方便；5、可保存、打印、查看測(cè)試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)；6、儀器帶有RS232通訊接口，可以連接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)真空度-離子電流曲線下載、壽命估計(jì)等多種功能；7、儀器重量輕，攜帶方便；

江蘇無(wú)錫真空度開(kāi)關(guān)測(cè)試儀本儀器采用兩次啟動(dòng)高壓的方法，若儀器次啟動(dòng)高壓后又回到初始狀態(tài)，此時(shí)為儀器拒檢。應(yīng)檢查真空管是否處于合的狀態(tài)，如不是，則該管已嚴(yán)重漏氣或完全泄漏。（6）打印： 若需打印測(cè)試數(shù)據(jù)，則按[確認(rèn)鍵]返回主菜單，按[選擇鍵]使[←]至打印測(cè)試數(shù)據(jù)，再按[打印鍵]，即可打印出所有測(cè)量數(shù)據(jù)。五、硬件構(gòu)造：SH-25-III的硬件大致分為四部分1、CPU主控單元該部分用于接收用戶指令，控制顯示器進(jìn)行各種顯示，產(chǎn)生高壓?jiǎn)卧璧拿}沖信號(hào)，及對(duì)磁控電流控制單元發(fā)出各種控制指令，負(fù)責(zé)整個(gè)測(cè)量過(guò)程的時(shí)序控制，該單元是整個(gè)系統(tǒng)的主體。2、高壓與磁控電流控制板高壓部分將控制部分送來(lái)的具有一定占空比的信號(hào)進(jìn)行功率放大，驅(qū)動(dòng)高壓變壓器，從而產(chǎn)生測(cè)量所需的高壓。磁控電流控制部分用于接收控制部分的指令，進(jìn)行充電，閥值比較，狀態(tài)回送及啟動(dòng)磁控電流等操作。3、按鍵與顯示板按鍵部分用于用戶指令，操縱按鍵使儀器處于不同的工作狀態(tài)。顯示部分用于顯示系統(tǒng)的各種參數(shù)。4、打印機(jī)用于打印輸出所測(cè)量的參數(shù)，打印結(jié)果如下所示：TESTED BUIC-Ⅲ?TESTED BYUC-ⅢPRESSURE：3.260E-5Pa?CURRENT：2.621E-6A（真空度值）（漏電流值）TUBE NO： （管編號(hào)）?TUBE NO： （管編號(hào)）TUBE TYPE：（管型）TUBE TYPE：（管型）DATE： （日期）? DATE： （日期）TEST REPORT TEST REPORT（檢驗(yàn)記錄）（檢驗(yàn)記錄）